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PF6原子荧光光度计受空白荧光的影响分析

发布时间:2021-10-22      点击次数:292
  PF6原子荧光光度计属于普析的中产品系列,采用气源式顺序流动注射、免调灯、卷流式气液分离器、双光束等普析原创性技术,继承改良了石英原子化器、非色散短焦距光路等传统原子荧光制造技术。
  
  光度计是通过测量待测元素的原子蒸气在辐射能激发下产生的荧光发射强度,来确定待测元素含量的方法。气态自由原子吸收特征波长辐射后,原子的外层电子从基态或低能级跃迁到高能级经过约10-8s,又跃迁至基态或低能级,同时发射出与原激发波长相同或不同的辐射,称为原子荧光。
  
  PF6原子荧光光度计很容易受到各种因素的影响与干扰,其中表现较多的为空白荧光强度过高且不稳定。下面我们就来看看吧!
  
  故障表现为测定某种元素前,试剂空白测试时,经常出现荧光强度在1000~8000范围内大幅度波动的现象,甚至导致超出仪器的测量范围而提示信号溢出。
  
  在排除仪器流路和容器污染以及实验用水因素后,配制不同浓度的酸溶液上机试验,如果荧光强度值随酸度降低而成比例减小,即可确定上述故障现象由介质所导致。
  
  此故障在更换合格介质后仪器多能自动恢复正常。
  
  由此建议,PF6原子荧光光度计在整个实验过程使用的酸为优级纯,为达到满意的实验结果,应简化实验步骤。
  
  若实验方法允许,可将样品处理、标准系列配制和载流所用介质保持一致,以便将介质影响降到小。

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